产品简介
能量色散型X射线荧光分析装置（EDXRF）是一种基于X射线荧光原理的无损元素分析仪器。仪器以X射线管照射样品，样品中的原子受激后发射出具有元素特征的荧光X射线，再由能量色散型检测器（通常为硅漂移检测器SDD）分辨各元素的能量与强度，从而对样品进行元素的定性、半定量与定量分析。广泛应用于电子电气RoHS/无卤筛查、合金与贵金属成分分析、镀层厚度及成分分析、矿产与建材等领域的元素检测。
主要技术参数
- 分析原理：能量色散X射线荧光光谱法（EDXRF），无损检测
- 可测元素范围：Na（11）～U（92），可多元素同时分析
- 含量分析范围：1ppm～99.99%
- 检测器：高分辨硅漂移检测器（SDD），电制冷，无需液氮
- X射线管：微聚焦铑（Rh）靶或钼（Mo）靶，依配置
- 高压发生器：最高50kV，管电流软件可调
- 准直器／滤光片：多组可自动切换，最小光斑可达0.2mm
- 样品形态：固体、粉末、液体及薄膜样品
- 样品室：大容量样品腔，可容纳常规尺寸样件
- 测量氛围：空气／真空／氦气，依配置
- 软件功能：基本参数法（FP）无标样分析、谱图比对、统计与报表输出
- 电源：AC 220V，50/60Hz
产品特点
- 无损检测，样品无需复杂前处理
- 可多元素同时分析，速度快、操作简便
- 电制冷检测器，无需液氮等日常耗材
- 适用于RoHS/ELV符合性筛查及材料成分管控
