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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB 是德国菲希尔（FISCHER）推出的微焦点 X 射线荧光（XRF）镀层测厚仪，专为 PCB 行业设计，用于镀层厚度测量与材料分析。
典型应用
主要功能（依据原厂操作手册 FISH-OM-27 VER.01/2019）
随机附原厂操作手册，提供仪器操作、校准与日常维护指引；适用于 PCB 制造与品保实验室的镀层质量控制。
技术参数
| 测量原理 | 能量色散 X 射线荧光（EDXRF），配多毛细管 X 射线光学 |
| 元素范围 | 铝 Al (13) 至铀 U (92)，最多同时测量 24 种元素 |
| 应用 | PCB 及元器件上极小微结构的镀层厚度与成分自动测量；PCB 尺寸可达 610 × 610 mm |
| 可分析镀层 | 极薄镀层，如 Au/Pd 镀层 ≤ 0.1 μm |
| X 射线管 | 标准：微焦点钨靶管（铍窗）；可选：微焦点钼靶管 |
| 高压 | 三档：10 kV、30 kV、50 kV |
| 一次滤光片 | 4 片可切换：Ni 10 μm；free；Al 1000 μm；Al 500 μm |
| 测量光斑 | 约 Ø 20 μm 或 Ø 10 μm（fwhm at Mo-Kα） |
| X 射线探测器 | 珀尔帖冷却硅漂移探测器（SDD） |
| 有效探测器面积 | 20 mm² 或 50 mm² |
| 样品台 | 快速可编程 XY 台；可选配真空固定台 |
| 可用样品放置面积 | 600 × 600 mm |
| 最大行程 | 450 × 300 mm |
| 最大移动速度（XY） | 60 mm/s |
| 重复定位精度（XY） | ≤ 5 μm，方向无关 |
| 样品重量/高度 | 最大 5 kg / 最大 10 mm |
| 视频显微镜 | 高分辨率 CCD 彩色相机，手动/自动对焦，对比网格、十字线标尺、激光指示器（1 类） |
| 电源 | AC 115 V 或 AC 230 V，50/60 Hz，最大 120 W |
| 防护等级 | IP40 |
| 外形尺寸（宽×深×高） | 670 × 885 × 660 mm |
| 重量 | 约 156 kg |
| 工作环境 | 10 ℃ – 40 ℃，相对湿度 ≤ 95 % |
| 软件 | 标准：Fischer WinFTM® BASIC（含 PDM®）；可选 WinFTM® SUPER |
| 符合标准 | DIN ISO 3497、ASTM B 568；CE：EN 61010、EN 61326 |
以上参数依据厂商官方资料整理，具体以订货型号与随机规格书为准。
