产品简介
XRF镀层分析仪是一款台式能量色散型X射线荧光光谱仪，除测量镀层厚度外，还可同时分析镀层与基体的元素成分，实现成分与厚度的同步测定。仪器采用下照式光学设计，测量过程不接触、不损伤样品；配合高分辨检测器与CCD观测定位，可对微小测量面积以及凹凸面、螺纹、曲面等异型件进行精准测量。适用于PCB、电镀、连接器、半导体及贵金属等行业的镀层与材料分析。
主要技术参数
- 分析原理：能量色散型X射线荧光（EDXRF），无损、非接触
- 元素分析范围：Mg（12）～U（92），可同时分析多种元素
- 含量分析范围：1ppm～99.99%
- 镀层厚度测量：涂镀层最低检出限可达0.005μm，可同时分析5层以上镀层
- 成分分析含量范围：5ppm～99.99%
- X射线管：微聚焦X射线管，最大输出电压50kV，自带电压过载保护
- 检测器：高分辨电制冷Si-Pin检测器
- 多道分析器：4096道数字多道分析器（DPP）
- 准直器：标配Φ0.5mm，可选配Φ0.3mm
- 观测定位：内置高清CCD摄像机，可选配移动平台
- 软件功能：薄膜FP法无标样分析、定性/定量分析、统计报表
- 电源：AC 220V，50/60Hz
产品特点
- 一台仪器同时完成镀层厚度与成分分析
- 下照式一体化设计，测量快速，无需样品制备
- 内置高清CCD观察定位，避免接触污染或破坏样品
- 可分析单层、多层、合金镀层及电镀液
