MIT耐折弯测试仪

产品简介

MIT耐折弯测试仪用于测定纸、纸板、塑料薄膜、金属箔以及FPC软板等片状材料在反复弯折下的耐折性能。测试时试样被夹持在折头两端的夹口中，在恒定张力（荷重）下以规定角度、规定频率反复弯折，直至试样在折痕处断裂，仪器自动记录弯折次数，即为该试样的耐折度。设备参考GB/T 457、GB/T 2679.5、ISO 5626、ASTM D2176等标准要求，是造纸、包装、电子及质量检验等领域常用的可靠性试验设备。

主要技术参数

• 测试角度：±135°，触摸屏显示
• 折叠速度：175次/分，典型值
• 张力载荷：4.9N／9.81N／14.7N 可调
• 试验次数：0～99999999次，可设定并自动计数
• 折叠头宽度：约20mm
• 折口半径：1mm，0.25／0.50／0.75mm可定制
• 折叠口夹缝距离：0.5mm
• 控制系统：触摸屏＋PLC
• 驱动系统：闭环电机＋减速系统
• 数据输出：微型热敏打印机，或数据导出
• 电源：AC 220V，50Hz

产品特点

• 在恒定载荷下按标准角度与速度反复弯折，结果重复性好
• 触摸屏设定参数，自动计数并在断裂时停机
• 折口半径、夹缝等可按不同标准定制
• 适用纸张、薄膜、金属箔、软板等多种片状材料